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Especificación JTAG / Estándar IEEE 1149

Especificación JTAG / Estándar IEEE 1149

JTAG, el escaneo de límites es ahora una tecnología bien establecida que se usa ampliamente en muchas áreas de prueba dentro de la industria electrónica. El uso de la tecnología JTAG surgió de la necesidad de poder proporcionar suficiente acceso de prueba para cada placa más compleja mientras se reducía el acceso de prueba. Como resultado, se introdujo la tecnología de escaneo de límites y la especificación JTAG o el estándar JTAG ahora está firmemente establecido.

Con el aumento de la complejidad de los elementos electrónicos en los últimos años, la especificación JTAG se ha convertido en el formato de prueba aceptado para probar unidades electrónicas compactas y complicadas. De hecho, JTAG es a menudo el único método viable que se puede utilizar en muchos casos, ya que no es posible acceder a muchos nodos de circuito.

¿Qué es JTAG?

La tecnología JTAG utiliza una técnica que no requiere que el sistema de prueba tenga acceso directo a cada nodo. El estándar JTAG puede acceder al estado de los nodos dentro del circuito pasando un flujo de datos en serie al elemento bajo prueba y luego leyendo el estado del flujo a medida que sale de la placa.

Para lograr esto, la especificación JTAG define una celda de retención de registro de desplazamiento que está integrada en cada conexión externa de cada escaneo de límites o dispositivo compatible con JTAG. En condiciones de funcionamiento normales, es decir, cuando no se está probando, la celda permanece transparente y no afecta el funcionamiento del dispositivo. Cuando se usa para escaneo de límites, la prueba JTAG del registro de desplazamiento se establece en un modo en el que puede transferir datos a la siguiente celda del dispositivo. Hay puntos de entrada y salida definidos para que los datos entren y salgan del dispositivo, por lo que es posible encadenar varios dispositivos juntos. De esta manera, el escaneo de límites, JTAG puede probar circuitos integrados individuales o placas completas (siempre que haya suficientes dispositivos compatibles con el escaneo de límites JTAG en la placa).

Cuando se utiliza en JTAG, modo de prueba de escaneo de límites, permite pasar un flujo de datos en serie (vector de prueba) de una celda de retención de registro de desplazamiento a la siguiente. Las celdas de escaneo de límites en los dispositivos capturan datos de la línea del circuito integrado o los fuerzan a ingresarlos. De esta manera, un sistema de prueba que puede ingresar un flujo de datos a la cadena de registro de cambios puede configurar estados en la placa y también monitorear datos. Al configurar un flujo de datos en serie, fijarlo en su lugar y luego monitorear el flujo de datos de retorno, es posible obtener acceso a los circuitos en la placa y verificar que lo que se espera sea un flujo de datos de retorno.

Desarrollo de especificaciones JTAG

El desarrollo de la tecnología JTAG de escaneo de límites comenzó en 1985 cuando se creó un grupo conocido como Joint Test Action Group. Las iniciales de este grupo pronto se acortaron a JTAG y desde entonces el nombre se ha mantenido para describir esta tecnología que ahora está firmemente establecida.

La solución resultante ideada por JTAG fue la tecnología de escaneo de límites para la prueba. Desde entonces, la especificación JTAG resultante ha sido ampliamente utilizada por muchas áreas de la industria electrónica, convirtiéndose en una técnica estándar utilizada por muchos fabricantes.

Escaneo de límites, la tecnología JTAG se basa en el uso de circuitos integrados VLSI que tienen una capacidad de escaneo de límites. Como resultado, existe una necesidad de estandarización en toda la industria electrónica. Para garantizar que esto ocurriera, el Instituto de Ingenieros Eléctricos y Electrónicos adoptó el escaneo de límites, IEEE en los EE. UU. Como IEEE1149. La primera edición del estándar de escaneo de límites se publicó en 1990 y su propósito declarado era probar las interconexiones entre circuitos integrados montados en placas, módulos, híbridos y otros sustratos. Desde entonces se han realizado más revisiones de la especificación JTAG.

Obtener la especificación o especificación JTAG

En vista de la importancia de la especificación JTAG y su uso por parte de muchos fabricantes, proveedores de equipos de prueba y otros, la especificación ha sido adoptada por el IEEE, Instituto de Ingenieros Eléctricos y Electrónicos con sede en los EE. UU.

Si se requieren copias del estándar IEEE 1149.1, se pueden obtener de la siguiente fuente:

Departamento de Normas IEEE
445 Hoes Lane
CORREOS. Caja 1331
Piscataway, Nueva Jersey 08855-1331
Estados Unidos

Especificación JTAG

Para adoptar el escaneo de límites, o la solución de prueba JTAG, el IEEE estableció una serie de comités o grupos de trabajo para abordar los diferentes aspectos de la tecnología, y los estándares resultantes tienen sus números. De hecho, Joint Test Action Group o JTAG es el nombre habitual utilizado para el estándar IEEE 1149.1 titulado Puerto de acceso de prueba estándar y arquitectura de escaneo de límites. Los números estándar IEEE 1149 son los que se citan como definiciones para la tecnología JTAG.

Los números de los comités se dan a continuación:

  • IEEE 1149.1: este grupo aborda la prueba para ensamblajes digitales. Este número de comité es el que normalmente se ve como el que se usa para la especificación JTAG.
  • IEEE 1149.2: el grupo se ha fusionado con el grupo IEEE 1149.1 y ahora está obsoleto.
  • IEEE 1149.3: grupo se ha vuelto obsoleto.
  • IEEE 1149.4: este grupo dirige la prueba para ensamblajes analógicos y de señal mixta.
  • IEEE 1149.5: aborda la prueba a nivel del sistema.
  • IEEE 1149.6: El estándar IEEE 1149.6 fue aprobado en marzo de 2003 y amplía la capacidad de IEEE 1149 para incluir redes acopladas y diferenciales de CA.
  • IEEE 1149.7: Esto define el puerto de acceso de prueba de próxima generación, TAP.7.
  • IEEE 1532: este es un estándar derivado para la programación en el sistema de dispositivos digitales.

Aunque IEEE 1149.1 es el estándar más utilizado, es decir, la especificación JTAG y a menudo aparece citado en la literatura, los otros también son importantes en sus propias áreas. Como puede verse en la lista, algunos grupos que trabajan en aspectos diferentes o aliados de la especificación JTAG han completado sus tareas y se han fusionado o han quedado obsoletos.

La especificación JTAG según se define en el estándar IEEE 1149.1 es la que utiliza la industria de pruebas de electrónica. Se usa ampliamente porque permite lograr una cobertura de prueba mucho mayor que cualquier otra tecnología de prueba, especialmente para ensamblajes donde el acceso a los nodos no es posible. Como resultado, la especificación JTAG se utiliza para probar elementos desde circuitos integrados individuales hasta conjuntos electrónicos complejos. En vista del hecho de que no hay otras tecnologías de prueba viables disponibles para estas circunstancias, la especificación JTAG estará en evidencia durante muchos años.

Ver el vídeo: JTAG ProVision - Professional Boundary-scan PCB Test and Programming Software (Octubre 2020).