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CJTAG IEEE 1149.7 Estándar

CJTAG IEEE 1149.7 Estándar

El estándar IEE 1149.7 es un nuevo estándar también conocido como Compact JTAG o cJTAG que ha sido desarrollado para satisfacer las crecientes necesidades de pruebas de placas y sistemas electrónicos modernos. El estándar JTAG original proporcionó un gran avance en las pruebas, pero a medida que muchos diseños se alejaron de las placas de circuito impreso convencionales a módulos de varios chips, paquetes de troqueles apilados, y se requirieron más pruebas y depuración, incluso con apagado y operación de baja potencia, se necesitaba una adición al estándar JTAG original.

El estándar IEEE 1149.7 resultante se basa en el estándar JTAG existente para cumplir con muchos de los nuevos requisitos. El nuevo estándar IEEE 1149.7 no reemplaza al antiguo estándar IEEE 1149.1 JTAG, pero su objetivo es permitir que esta técnica básica de prueba JTAG se utilice en muchas de las nuevas placas de alta densidad donde se requiere mayor flexibilidad y funcionalidad adicional para proporcionar una cobertura de prueba suficiente. . Estas funciones adicionales están disponibles en Compact JTAG / IEEE 1149.7 al mismo tiempo que ofrecen compatibilidad con versiones anteriores.

Los equipos que cumplen con el estándar IEEE 1149.7 cJTAG o Compact JTAG están ahora disponibles de una variedad de proveedores y se anticipa que su uso aumentará considerablemente en los próximos años.

Conceptos básicos de IEEE 1149.7 cJTAG

Uno de los elementos clave de Compact JTAG es que el estándar IEEE 1149.7 define un nuevo puerto de acceso de prueba (TAP) conocido como TAP.7. Esto amplía la funcionalidad del puerto de acceso de prueba del estándar JTAG original (TAP.1) de varias formas.

Uno de los elementos principales es que el enfoque de las pruebas JTAG se ha ampliado un poco. El estándar IEEE 1149.1 original se desarrolló como un medio para probar las interconexiones a nivel de placa, pero el nuevo estándar IEEE 1149.7 incorpora características adicionales para brindar instalaciones de prueba adicionales. Proporciona instalaciones de gestión de energía; admite una mayor integración de chips; depuración de la aplicación; y programación de dispositivos.

En vista del hecho de que no todas las instalaciones serán necesarias para todos los probadores y aplicaciones, las características de IEEE 1149.7 se agrupan en seis clases que se clasifican progresivamente. Cada clase es un superconjunto de todas las clases inferiores. Las clases T0 a T3 amplían el estándar IEEE 1149.1 original y permiten una mayor funcionalidad. Las clases T4 y T5 se centran en la operación del sistema de dos pines en lugar de los cuatro requeridos para el sistema JTAG original.


Clase cJTAGDetalles
Clase T0Esta es la clase básica para las pruebas Compact JTAG. Mantiene un estricto cumplimiento con el IEEE 1149.1 original, pero además de esto, también permite múltiples puertos de acceso de prueba en un solo chip.
Clase T1Esta clase proporciona las instalaciones de clase 0, además de brindar soporte para el protocolo de comando 1149.7, la generación de restablecimientos funcionales y de prueba, y el control de potencia.
Clase T2La funcionalidad de Clase 2 también proporciona la capacidad de omitir la lógica de prueba del sistema en cada IC. Esto da como resultado la creación de una ruta de 1 bit para las exploraciones de registros de instrucciones y registros de datos.
Clase T3Esta clase agrega la posibilidad de utilizar controladores TAP.7 en una topología en estrella de 4 hilos.
Clase T4Esta clase agrega soporte para protocolos de escaneo avanzados y operación de 2 pines donde toda la señalización se logra utilizando solo los pines TMS y TCK. Las líneas TDO y TDI se pueden eliminar si es necesario.
Clase T5La clase 5 proporciona la máxima funcionalidad dentro de IEEE 1149.7. Agrega soporte para hasta 2 canales de datos para transferencias de datos sin escaneo. Estos se pueden utilizar para aplicaciones de instrumentación y depuración específicas de la aplicación.

CJTAG, IEEE 1149.7 Resumen

Aunque el estándar Compact JTAG o cJTAG especificado en IEEE 1149.7 solo usa dos pines para el TAP en lugar de los cuatro pines usados ​​para el estándar IEEE 1149.1 original, aún puede proporcionar funcionalidad adicional. Estas mejoras permiten reducir el número de pines del Sistema en chip y proporciona un formato estandarizado para condiciones de funcionamiento de ahorro de energía. Como resultado, el estándar IEEE 1149.7 permitirá realizar pruebas de estilo JTAG en muchos diseños nuevos más fácilmente de lo que hubiera sido posible con el estándar IEEE 1149.1 anterior.

Ver el vídeo: Xbox 360 JTAG Tutorial - Part 1 (Octubre 2020).